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自動指紋辨識系統(Automated Fingerprint Identification System)
高精準度指紋與掌紋辨識技術
NEC自1971年起持續投入指紋辨識技術的研究與開發，長期累積指紋、掌紋與潛伏指紋比對技術，並持續提升辨識精準度、搜尋速度與大型資料庫處理能力。
NEC 的自動指紋辨識系統 AFIS（Automated Fingerprint Identification System），可針對指紋與掌紋資料進行登錄、搜尋及比對，並透過高速的1:N資料庫搜尋能力，從大量資料中快速找出可能符合的候選結果。
透過長期累積的辨識演算法與大型系統建置經驗，NEC AFIS可廣泛應用於公共安全、身分管理、鑑識、出入境管理與政府服務等領域。
指紋與掌紋辨識
NEC AFIS可支援指紋與掌紋資料的登錄、搜尋與比對，透過高精準度辨識技術協助進行可靠的身分識別。
系統可將擷取到的生物特徵資訊數位化，並與既有資料庫中的指紋或掌紋資料進行比對，協助快速篩選相似度較高的候選結果。支援多種指紋資料
NEC AFIS可處理多種類型的指紋與掌紋資料，包括：
- 十指指紋（Tenprint）
- 單指指紋
- 平面多指指紋（Slap Fingerprint）
- 潛伏指紋（Latent Fingerprint）
- 掌紋（Palmprint）
因此可因應不同資料來源與應用情境，支援從身分登錄到大型資料庫搜尋與比對等需求。
高速1:N大型資料庫搜尋
AFIS與一般1:1身分驗證不同，其核心能力之一在於1:N身分識別搜尋。
當系統取得一枚未知指紋後，可將其與資料庫中的大量既有資料進行自動搜尋及比較，並依據相似程度產生候選結果。
透過高速搜尋與排序機制，可協助縮小人工確認範圍，提高身分識別與調查作業效率。Positive Identification（PID）
NEC亦將長期累積的AFIS技術延伸至Positive Identification（PID）應用。
透過高可靠度的指紋辨識與比對能力，可依據不同身分管理需求進行精確的個人身分確認，強化身分識別流程的安全性與可靠性。NEC指紋辨識核心技術Minutiae and Related Method
特徵點與隆線關係比對技術
指紋是由一系列隆線構成，其中具有多種可用於識別個人的特徵點（Minutiae），主要包括：
- 隆線終點（Ridge Ending）
- 隆線分岔點（Ridge Bifurcation）
這些特徵點的位置、方向以及相互關係，共同形成每個人獨特的指紋資訊。
然而，由於手指皮膚具有柔軟性，在不同按壓角度或壓力下，指紋影像可能產生一定程度的變形，造成特徵點位置與方向發生改變。
NEC開發的Minutiae and Related Method，除了分析特徵點本身之外，也會分析各特徵點之間的隆線數量及關聯性。
即使指紋因按壓而產生變形，特徵點之間的隆線數量仍相對穩定，因此能協助提升比對的可靠性。
相同的核心演算法亦可應用於掌紋辨識。系統整合能力
NEC AFIS可依據不同業務需求，與既有設備及資訊系統進行整合，包括：
- Live Scan 指紋擷取設備
- 人像影像系統
- 身分資料管理系統
- 犯罪紀錄管理系統
- 其他AFIS系統
- 其他相關生物辨識系統
透過系統整合，可建立從資料擷取、登錄、搜尋、比對到候選結果確認的完整流程。
多元應用場景
公共安全與鑑識
透過指紋、掌紋及潛伏指紋搜尋與比對，協助提升身分確認與鑑識作業效率。
出入境與邊境管理
運用指紋生物特徵協助進行身分識別，並可與既有出入境管理與資訊系統整合。
國民身分管理
透過大型生物特徵資料庫，協助確認個人身分，降低重複登錄或身分冒用的風險。
政府與公共服務
可依據不同政策與業務需求，整合至既有身分管理或公共服務系統中。